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      主營產(chǎn)品:里氏硬度計涂層測厚儀超聲波測厚儀粗糙度儀超聲波探傷儀便攜式測振儀電火花檢漏儀氣體檢測儀便攜式內窺鏡激光測徑儀
      產(chǎn)品[

      MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀

      ]資料
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      產(chǎn)品名稱: MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀
      產(chǎn)品型號: MiniTest1100/2100/3100/4100
      產(chǎn)品展商: 德國EPK
      產(chǎn)品文檔:
       MiniTest1100/MiniTest2100/MiniTest3100/M...


      簡單介紹
      MiniTest1100/2100/3100/4100 涂層測厚儀包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能,MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀均可配所有探頭,可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機,可使用一片或二片標準箔校準。F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層FN兩用探頭:同時具備F型和N型探頭的功能.

      MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀

      的詳細介紹

       MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍覆層測厚儀
      MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能,所有型號均可配所有探頭,可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機,可使用一片或二片標準箔校準。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N型探頭的功能
      所有探頭都可配合任一主機使用
      在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素
       MiniTest1100/2100/3100/4100 涂層測厚儀數(shù)據(jù)處理功能;
      所有型號均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
      可使用一片或二片標準箔校準

      技術指標
      型號
      1100
      2100
      3100
      4100
      MINITEST存儲的數(shù)據(jù)量
      應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù))
      1
      1
      10
      99
      每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設寬容度極限值)
       
      1
      10
      99
      可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)
       
      1
      500
      500
      數(shù)據(jù)總量
      1
      10000
      10000
      10000
      MINITEST統(tǒng)計計算功能
      讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
       
      讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
       
       
      組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
       
       
      組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
       
       
      存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據(jù)
       
       
       
      分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
       
       
      顯示并打印測量值、打印的日期和時間
       
      其他功能
      設置極限值
       
       
      連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別大小值
       
       
      連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
       
       
      連續(xù)測量模式中顯示小值
       
       
      探頭
      量程
      低端
      分辨率
      誤差
      小曲率半徑
      (凸/凹)
      小測量
      區(qū)域直徑
      小基
      體厚度
      探頭尺寸



       
       
       
       
       
       
       
      F05
      0-500μm
      0.1μm
      ±(1%±0.7μm)
      1/5mm
      3mm
      0.2mm
      φ15x62mm
      F1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      0.5mm
      φ15x62mm
      F1.6/90
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面/6mm
      5mm
      0.5mm
      φ8x8x170mm
      F2/90
      0-2000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      平面/6mm
      5mm
      0.5mm
      φ8x8x170mm
      F3
      0-3000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      0.5mm
      φ15x62mm
      F10
      0-10mm
      5μm
      ±(1%±10μm)
      5/16mm
      20mm
      1mm
      φ25x46mm
      F20
      0-20mm
      10μm
      ±(1%±10μm)
      10/30mm
      40mm
      2mm
      φ40x66mm
      F50
      0-50mm
      10μm
      ±(3%±50μm)
      50/200mm
      300mm
      2mm
      φ45x70mm

       
       
      FN1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      F0.5mm/N50μm
      φ15x62mm
      FN1.6P
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面
      30mm
      F0.5mm/N50μm
      φ21x89mm
      FN2
      0-2000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      F0.5mm/N50μm
      φ15x62mm



       
       
       
       
       
       
       
       
       
      N02
      0-200μm
      0.1μm
      ±(1%±0.5μm)
      1/10mm
      2mm
      50μm
      φ16x70mm
      N.08Cr
      0-80μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      2.5mm
      2mm
      100μm
      φ15x62mm
      N1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      2mm
      50μm
      φ15x62mm
      N1.6/90
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面/10mm
      5mm
      50μm
      φ13x13x170mm
      N2
      0-2000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      50μm
      φ15x62mm
      N2/90
      0-2000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      平面/10mm
      5mm
      50μm
      φ13x13x170mm
      N10
      0-10mm
      10μm
      ±(1%±25μm)
      25/100mm
      50mm
      50μm
      φ60x50mm
      N20
      0-20mm
      10μm
      ±(1%±50μm)
      25/100mm
      70mm
      50μm
      φ65x75mm
      N100
      0-100mm
      100μm
      ±(1%±0.3mm)
      100mm/平面
      200mm
      50μm
      φ126x155mm
      CN02
      10-200μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      平面
      7mm
      無限制
      φ17x80mm
      F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

      測頭 F05 (鐵基體涂鍍層  小測量面積直經(jīng)3mm  0-500um,低端分辨率0.1um)
      測頭 F3 (鐵基體涂鍍層             0-3000um,低端分辨率0.2um)
      測頭 F1.6 (鐵基體涂鍍層             0-1600um,低端分辨率0.1um)
      測頭 F1.6P (鐵基體上未固化粉末涂層   0-1600um,低端分辨率0.1um)
      測頭 F1.6/90 (鐵基體涂鍍層 測管內壁    0-1600um,低端分辨率0.1um)
      測頭 F10/2,F20 (鐵基體涂鍍層             0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um)
      測頭 F50 (鐵基體涂鍍層                       0-50mm,分辨率,10um)
      測頭 FN1.6 (鐵及銅鋁基體涂鍍層                 0-1600um,分辨率0.1um)
      測頭 FN1.6P (鐵及銅鋁基體上未固化粉末涂層       0-1600um,分辨率0.1um)
      測頭 N02 (銅鋁基體涂層                       0-200um,分辨率,0.1um)
      測頭 N08 Cr (銅基體上鍍鉻層                     0-800um,分辨率0.1um)
      測頭 N02 Tu (鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層             0-200um,分辨率0.1um)
      用于測頭N02 Tu的專用支架  
      測頭 N1.6 (銅鋁基體涂層                       0-1600um,分辨率0.1um)
      測頭 N1.6/90 (銅鋁基體涂層 測管內壁              0-1600um,分辨率0.1um)
      測頭 N10/2,N20 (銅鋁基體涂鍍層         0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um)
      測頭 N100 (鐵及銅鋁基體涂鍍層                 0-100mm,分辨率100um)
      測頭 CN  02 (敷銅板等                           10-200um,分辨率0.2um)
      RS232 接口電纜 for 2100/4100 MiniTest 1100/2100/3100/4100  (用于連接個人電腦)
      MSOFT41 數(shù)據(jù)分析軟件 for 4100 MiniTest 1100/2100/3100/4100  (用于連接個人電腦)
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      京公網(wǎng)安備 11010802025677號

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