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      主營(yíng)產(chǎn)品:里氏硬度計(jì)涂層測(cè)厚儀超聲波測(cè)厚儀粗糙度儀超聲波探傷儀便攜式測(cè)振儀電火花檢漏儀氣體檢測(cè)儀便攜式內(nèi)窺鏡激光測(cè)徑儀
      產(chǎn)品[

      涂層板材多層測(cè)厚儀

      ]資料
      如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
      產(chǎn)品名稱: 涂層板材多層測(cè)厚儀
      產(chǎn)品型號(hào): CMXDL/DL+
      產(chǎn)品展商: 美國(guó)DAKOTA
      產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔


      簡(jiǎn)單介紹
      涂層板材多層測(cè)厚儀多種測(cè)量方式: 模式一:僅測(cè)量基體厚度 模式二:僅測(cè)量涂層厚度 模式三:同時(shí)測(cè)量基體和涂層的厚度 美國(guó)DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測(cè)厚儀,涂層板材多層測(cè)厚儀(基體和涂層)測(cè)厚儀可測(cè)量材料的厚度,穿透涂層測(cè)量材料厚度,也可以測(cè)量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置,以獲得*佳的性價(jià)比。

      涂層板材多層測(cè)厚儀

      的詳細(xì)介紹

      CMX系列超小型多層厚度(基體和涂層)測(cè)厚儀


       多種測(cè)量方式:
      模式一:僅測(cè)量基體厚度
      模式二:僅測(cè)量涂層厚度
      模式三:同時(shí)測(cè)量基體和涂層的厚度
       
      美國(guó)DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測(cè)厚儀,可測(cè)量材料的厚度,穿透涂層測(cè)量材料厚度,也可以測(cè)量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置,以獲得*佳的性價(jià)比。

      CMX
      除了常規(guī)的超聲波測(cè)厚儀的功能外,增加了B-掃描功能和多種測(cè)量模式,包括:
      - 脈沖-回波(P-E)模式,測(cè)量材料厚度
      - 脈沖-回波涂層(PECT)模式,同時(shí)測(cè)量材料厚度和涂層厚度
      - 脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式,測(cè)量材料厚度
      - 回波-回波(E-E)模式,穿過(guò)涂層測(cè)量材料厚度
      - 回波-回波驗(yàn)證(E-EV)模式,穿過(guò)涂層測(cè)量材料厚度
      - 測(cè)量涂層(CT)模式,只測(cè)量涂層厚度
      CMXDL
      在CMX的超聲波測(cè)厚儀基礎(chǔ)上,增加了存儲(chǔ)功能。

      CMXDL+
      在CMXDL超聲波測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上,增加了A掃描功能,多種探頭類型(包括雙晶探頭、單晶延遲塊探頭、單晶接觸型探頭、單晶筆形探頭),另有彩色屏幕主機(jī)可選。
      詳細(xì)資料
      超聲波測(cè)厚儀CMX/CMXDL

      技術(shù)參數(shù)
        測(cè)量
        脈沖-回波(P-E)模式測(cè)量范圍:0.63~1219.2mm(鋼)
      脈沖-回波涂層(PECT)模式測(cè)量范圍:0.63~1219.2mm(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)
      脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式 測(cè)量范圍:0.63~1219.2mm(鋼)
      回波-回波(E-E)模式測(cè)量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過(guò)涂層測(cè)量,隨涂層厚度的不同,測(cè)量范圍也會(huì)變化)
      回波-回波驗(yàn)證(E-EV)模式測(cè)量范圍:2.54~102mm(鋼,穿過(guò)涂層測(cè)量,隨涂層厚度的不同,測(cè)量范圍也會(huì)變化)
      測(cè)量涂層(CT)模式測(cè)量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
      分辨率:0.01mm
      聲速范圍:309.88~18542m/s
      單位:公制或英制
      校準(zhǔn):一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式
        顯示
        顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素??梢晠^(qū)62x45.7mm,EL背光
      B-掃描方式:基于時(shí)間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個(gè)讀數(shù)
      大數(shù)字方式:標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示,數(shù)字高度17.78mm
      厚度條形掃描:速度10Hz,在B-掃描和大數(shù)字顯示模式中可見(jiàn)
      穩(wěn)定度指示:表示測(cè)量值的穩(wěn)定性
      功能狀態(tài)指示:顯示當(dāng)前激活的功能
        超聲波參數(shù)
        測(cè)量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
      脈沖:可調(diào)方波脈沖發(fā)生器
      接收:根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動(dòng)或AGC增益控制
      計(jì)時(shí):?jiǎn)未?00MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精準(zhǔn)TCXO計(jì)時(shí)
      脈沖重復(fù)頻率:250Hz
        探頭
        頻率范圍:1~10MHz
      雙晶探頭
      LEMO接口,1.2米探頭線
      可定制用于特殊應(yīng)用的探頭
        存儲(chǔ)(僅CMXDL)
        容量:內(nèi)置4GB SD卡
      數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu):網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動(dòng)識(shí)別)
      屏幕捕獲:位圖圖形捕獲,用于快速記錄
      數(shù)據(jù)輸出:通過(guò)USB Type-C連接的計(jì)算機(jī)
        其他
        鍵盤:12個(gè)觸摸鍵
      電源:標(biāo)配為三節(jié)5號(hào)堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無(wú)操作五分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。USB Type-C供電
      外殼:擠壓鋁機(jī)殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
      工作溫度:-10~60℃
      尺寸:63.5x165x31.5mm
      重量:含電池385g
      包裝:ABS工程塑料箱
      出廠證書:工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)
         
      常用探頭
        型號(hào)   頻率   探頭晶片直徑   探頭防磨面直徑   測(cè)量范圍   說(shuō)明
         PT-102-2700    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0~152mm   標(biāo)準(zhǔn)高阻抗探頭
         PT-101-2700    5.0MHz    4.76mm    6.35mm    1.0~50mm   小管徑高阻抗探頭
         PT-101-2000    5.0MHz    4.76mm    6.35mm    1.0~50mm   小管徑探頭
         PT-102-3300    7.5MHz    6.35mm    9.53mm    0.63~152mm   超薄探頭
         PT-104-2700    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27~508mm   超厚高阻抗探頭
         PT-104-2000    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27~508mm   超厚探頭
         PT-042-2700    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0~152mm   標(biāo)準(zhǔn)高溫高阻抗探頭,*高340℃
         PT-042-2000    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0~152mm   標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭,*高340℃
         PT-044-2700    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27~508mm   超厚高溫高阻抗探頭,*高340℃
         PT-044-2000    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27~508mm   超厚高溫探頭,*高340℃
         PT-212-2001    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0~152mm   超高溫探頭,*高480℃
         PT-214-2001    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27~508mm   超厚超高溫探頭,*高480℃
      注: 測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑
      在穿透模式下,高阻抗探頭會(huì)有更好的表現(xiàn)
      表中的測(cè)量范圍為脈沖-回波模式測(cè)量范圍

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