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      下載文件詳細(xì)資料
        文件名稱:  DUALSCOPE? MP0 涂層測(cè)厚儀原版技術(shù)參數(shù)
        公司名稱:  北京時(shí)代山峰科技有限公司
        下載次數(shù):   853
        文件詳細(xì)說(shuō)明:
       

      DUALSCOPE® MP0 涂層測(cè)厚儀原版技術(shù)參數(shù)

      涂鍍層測(cè)厚儀DUALSCOPE® MP0
      —在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡(jiǎn)便、
        高精度測(cè)量涂鍍層厚度的理想選擇
      新款DUALSCOPE®MP0采用廣受認(rèn)可的Fischer探頭
      技術(shù),是為小巧并能大程度滿足您測(cè)量需要的
      儀器。它測(cè)量精度高、界面友好且結(jié)實(shí)耐用。對(duì)不
      復(fù)雜工件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量尤為理想。內(nèi)置探頭,采用磁
      感應(yīng)及電渦流方法,可快速無(wú)損地測(cè)量涂鍍層厚
      度。DUALSCOPE®MP0自動(dòng)識(shí)別基材例如鐵或鋁并選擇適
      合的測(cè)量方法。可顯示重要的統(tǒng)計(jì)參數(shù)。由于有著
      出色的重復(fù)精度及統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)功能,使得這款儀
      器在同級(jí)別產(chǎn)品中****。
      袖珍儀器中的技術(shù)
      DUALSCOPE®MP0有以下技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì):
      • 可在所有的金屬(鋼鐵或非鐵磁性金屬)基材上測(cè)
       量
      • 儀器自動(dòng)識(shí)別鍍層下的基材材料并選擇相應(yīng)的測(cè)量
       方法
      • 出色的重復(fù)精度
      • 受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀(曲率和厚度 
       等)影響小
      • 享有**的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)(電渦流方法)
      • 足夠小巧,甚至可以在比較難接觸到的區(qū)域進(jìn)行可
       靠的測(cè)量

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